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X射線分析

X射線衍射儀(XRD)

時間:2017-3-25 18:51:49  作者:  來源:國防科技工業應用化學一級站  查看:560  評論:0
內容摘要:生產廠家:荷蘭PANalytical儀器型號:X’PertPro主要技術指標:角度重現性,±0.0001o;測角準確度,0.0025o;探測器最大技術率,>4×106cps;99%線性范圍,>106cps;最小背景,<0.2cps;小角粒度測量范圍,(0~300...

X射線衍射儀(XRD)

生產廠家:

    荷蘭PANalytical

儀器型號:

    X’Pert Pro

主要技術指標:

    角度重現性,±0.0001o;測角準確度,0.0025o;探測器最大技術率,>4×106 cps;99%線性范圍,>106 cps;最小背景,<0.2 cps;小角粒度測量范圍,(0~300)nm。

功能及應用范圍:

    可進行粉末及薄膜樣品的晶體結構分析,物相鑒定(物相定性、定量分析),相變分析,結晶度測定等。此外,還可進行小角散射納米粒度測定、應力測定、織構測定等。


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